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style="width:1.35331in;height:0.57332in" />
style="width:8.43403in;height:10.48681in" /> 本文是学习GB-T 5195.15-2017 萤石 钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法. 而整理的学习笔记,分享出来希望更多人受益,如果存在侵权请及时联系我们
GB/T 5195 的本部分规定了用波长色散X
射线荧光光谱测定钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡和铅含量
的方法。
本部分适用于萤石中钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅的测定，测定范围见表1。
表 1 测定范围
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 6682 分析实验室用水规格和试验方法
GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定
GB/T 16597 冶金产品分析方法 X 射线荧光光谱法通则
GB/T 22564 萤石 取样和制样
粉末样品用四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂按一定比例熔铸成适合于 X
射线荧光光谱仪测量的
GB/T 5195.15—2017
试料熔片。在选定的仪器测量条件下测量试料熔片中待测元素特征谱线的荧光X
射线强度，根据校准
曲线或方程式来计算，获得样品中待测成分的含量。
除非另有说明，仅使用认可的分析纯试剂和符合 GB/T 6682
的规定的二级水或与其纯度相当
的水。
4.1
四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂，优级纯，推荐使用四硼酸锂和偏硼酸锂质量比为12:22的混合
熔剂，在650℃下灼烧4 h 后置于干燥器中。
4.2 硝酸锂，使用前在105℃±5℃下干燥2 h。
4.4 硝酸锂溶液，称取适量的硝酸锂(见4.2)配制成浓度为220 mg/mL
的溶液，置于棕色瓶中。
4.5 碘化铵溶液，称取适量的碘化铵(见4.3)配制成浓度为40 mg/mL
的溶液，置于棕色瓶中。
5.1 波长色散 X 射线荧光光谱仪，符合GB/T16597 规定。
5.2 熔样皿，推荐用铂合金(95% Pt+5%Au) 制成，容积大于30 mL。
5.3 铸型模，推荐用铂合金(95% Pt+5%Au) 制成，要求底部内表面平整光滑。
注：熔样皿和铸型模可合二为一。
5.4 熔样炉，能加热到1050℃,控温精度为±5℃。
按照GB/T 22564进行取样和制样，试样粒度一般应小于100 μm, 并在105℃±5℃烘2
h 后置于
干燥器中。
对于同一试样，至少进行两次独立测定。
准确称取5.00 g 四硼酸锂和偏硼酸锂的混合熔剂(4.1)和1.00 g
试样(6)于熔样皿中，均精确至
0.2 mg,混匀后加入1 mL 硝酸锂溶液(4.4)和1 mL
碘化铵溶液(4.5),在电炉上烘干，约10 min。
注：可根据铸型模的大小调整样品和熔剂的质量，但样品和熔剂的质量比保持1:5。
试料和熔剂在1000℃一起熔融，不时旋转和/或摇动，直至完全熔解且熔体均匀。如果熔样皿壁
上挂有小熔珠，需摇动熔样皿将其落入熔体中。熔融10 min
后，把熔融物倒入已预热3 min 以上的铸
型模中，取出，冷却。
也可用自动熔样炉进行试料熔融，熔融过程中摇动和转动熔样皿，制成的玻璃片在熔样皿中或倒入
铸型模中成型。
试料熔片应是均匀的玻璃体，表面平整光滑，无气泡和未熔小颗粒等夹杂，否则应重新制备。
GB/T 5195.15—2017
选择有一定浓度和梯度范围的系列标准样品或有证标准物质作为校准样品，并确保每个测量元素
的给出浓度的标准物质数量应大于或等于该元素校准曲线参数个数的3倍。校准曲线参数是指校准曲
线的截距、斜率、经验α影响系数和谱线重叠系数等。
注：当铅和钡的浓度梯度和个数小于6时，可在已知铅和钡的浓度标准样品中加入适量的铅标准溶液(硝酸介质)
和硫酸钡配制成合适的新校准样品，以增加校准曲线中校准样品的个数。
各元素特征谱线的测量条件通过优化获得，通常应测试3个～4个不同浓度的样品。测量条件参
见附录 A,
不同仪器可根据实际情况选择合适的测量条件，包括背景校正方法和测量时间。各元素的
X
射线荧光强度应不大于300 kcps。
可根据实际情况选择合适的校准方程，如理论α影响系数法、基本参数法、经验α影响系数法等。
但应注意校准方程参数的个数，每增加一个参数，应增加三个校准样品以确保该参数的可靠性。校准方
程中各测量元素除Ca 以 CaF₂ 形式表示外，其他元素以氧化物形式表示。
选择合适的校准样品熔片或试料熔片作为漂移校正熔片进行仪器的漂移校正。可采用单点校正或
两点校正，校正的间隔时间可根据仪器的稳定性决定。
预热仪器直至仪器稳定后，按选定的测量条件测定试料熔片。若进行仪器漂移校正，仪器稳定后，
先进行漂移校正，再进行试料熔片测定。
根据测出的试料熔片中各元素特征谱线的X
射线荧光强度，按校准方程计算出各元素的含量。
试样的最终结果是可接受分析值的平均值，或按附录 B 中步骤计算。
分析结果按GB/T8170
的规定进行修约。对于含量在0.1%及以上的成分，计算结果表示到两位
小数；含量在0.1%以下的成分，计算结果表示到三位小数。
测定元素与化合物的换算关系参见附录C。
2016年由八个实验室对六个水平的试样进行精密度试验，根据实验室数据得到本标准的重复性限
GB/T 5195.15—2017
(r) 和再现性限(R), 精密度见表2。
在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果
的绝对差值不大于重复性限(r), 超过重复性限(r) 的情况不超过5%。
在再现性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果
的绝对差值不大于再现性限(R), 超过再现性限(R) 的情况不超过5%。
表 2 精密度
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试验报告应包括下列信息：
a) 测试实验室名称和地址；
b) 委托人名称；
c) 证书或报告的唯一标识；
d) 样品接收日期和测试日期；
e) 证书或报告发布日期；
f) 本部分的编号；
g) 试样本身必要的详细说明；
h) 分析结果；
i)
测定过程中存在的任何异常特性和在本部分中没有规定的可能对试样或标准样品的分析结果
产生影响的任何操作。
GB/T 5195.15—2017
(资料性附录)
仪器参考工作条件
仪器参考工作条件见表 A.1。
表 A.1 仪器参考工作条件
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GB/T 5195.15—2017
(规范性附录)
试样分析结果接受程序流程图
试样分析结果接受程序流程图如图 B.1 所示。
从测定的结果开始
style="width:8.43403in;height:10.48681in" />style="width:1.01266in;height:0.5533in" />style="width:1.35331in;height:0.57332in" />style="width:8.43403in;height:10.48681in" />
注：r 为重复性限。
图 B.1 试 样 分 析 结 果 接 受
程 序 流 程 图
GB/T 5195.15—2017
(资料性附录)
测定元素和化合物的换算关系
测定元素和化合物的换算关系如表C.1 所示。
表 C.1 测定元素和化合物的换算关系
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